單粒測試機
單粒測試機，采用4T探針、標準電表、XYZ自動定位系統、視覺系統組成，用于片式薄膜、厚膜、厚膜超低阻、合金超低阻電阻的自動定位與阻值測量。
單粒測試機，屬于片式電阻生產制程中的關鍵設備，用于激光調阻前的首檢、激光調阻后的復測或終檢、印刷制程中電阻印刷后的阻值測試等。
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01005-2512電阻規格
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0.1mΩ-1Ω/1Ω-100MΩ阻值范圍
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產品優勢
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產品應用
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產品參數
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相關產品
產品優勢
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探針為電動可調型，可兼容0201-2512多種規格
4T探針設計為可調型，探針左右間距可調節，實現兼容0201-2512多種規格。01005規格的電阻尺寸小，采用固定間距探針卡。
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支持多種外接儀表，阻值測量范圍廣
外接儀表，RM系列(如RM3545)、AE系列(如AE162)等，實現超低阻(0.1mΩ-1Ω )，常規阻(1Ω-10MΩ)，超高阻(10MΩ-100MΩ)的阻值測量。
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支持PR視覺識別Mark，實現電阻自動對位
PR視覺，識別基板左右或上下位置的Mark點(圓形、方形、菱形等)，進行基板角度的自動校正，確保測量點位的重復精度與阻值測量的準確性。
產品應用
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各類貼片電阻阻值 -
各類貼片電阻阻值 -
各類貼片電阻阻值 -
各類貼片電阻阻值
演示視頻
產品參數
系列型號
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HiPA標準
vs -
選配
vs
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量測范圍
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量測精度
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量測效率
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量測方式
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探針設定
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量測穩定性
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HiPA標準
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量測范圍0.01μΩ～1200MΩ（電表）
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量測精度參考RM3545電阻計的規格書
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量測效率參考RM3545電阻計的規格書
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量測方式單通道
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探針設定4T
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量測穩定性采用RM3545: 1mΩ～10mΩ：＜0.5%；10mΩ～1Ω：＜0.1%； 1Ω～10MΩ：＜0.05%；10MΩ～100MΩ：＜0.1%
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選配
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量測范圍/
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量測精度客戶可指定電表
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量測效率客戶可指定電表
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量測方式最多可擴展到20通道
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探針設定/
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量測穩定性音圈電機：1mΩ～1Ω：＜0.1%
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